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Cmos Sram Circuit Design And Parametric Test In Nano-scaled Technologies - ENG

Process-aware Sram Design And Test
$3,380.00
Disponible
ISBN: 9781402083631
Formato: Page Fidelity
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Nature
Tema: Tecnología e ingeniería
Subtema: Eletrónica circuitos
Año de publicación: 2008-06-01

CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.

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